Spektrometr energiových ztrát elektronů (EELS) pro TEM/Electron Energy Loss Spectrometer (EELS) for TEM
47 500 000 47,5 milionů Kč
Zadavatel
Vysoké učení technické v Brně
Dodavatel
Podání nabídek
21. listopadu 2024 11:00
Datum zveřejnění
13. května 2024
Popis
Předmětem veřejné zakázky je spektrometr, který umožní použití EELS, STEM-EELS mapování, EFTEM chemické mapování, EFTEM zobrazování a difrakci (včetně filtrovaného 4D-STEM) a různé techniky 4D-STEM. Spektrometr bude instalován na mikroskop TEM TITAN Themis 60-300 v laboratoři CEITEC VUT. Spektrometr bude optimalizován pro monochromatický EELS s rozlišením energie elektronů pod 100 meV a bude vybaven "Q-slit" aperturou pro EELS měření magnetického dichroismu. Tyto aplikace spektrometru budou možné s nejméně dvěma různými kamerami umožňující přímou detekci elektronů s nízkým šumem a s vysokým dynamickým rozsahem. Kombinace těchto kamer zajistí nejvyšší akviziční výkon v celém rozsahu urychlovacích napětí mikroskopu, tj. od 60 kV do 300 kV. Alespoň jedna kamera bude umožňovat detekci jednotlivých elektronů a vysoké rozlišení pixelů. Alespoň jedna kamera bude typu hybridního pixelového detektoru umožňujícím ultrarychlé snímáním EEL spekter a 4D-STEM difrakcí.
Systém spektrometru zajistí řádově rychlejší expoziční časy (tj. v řádu prvních stovek ns) než umožňuje systém mikroskopu. Získávání spekter pomocí kamer bude možné s minimalizovaným "mrtvým časem" (deadtime), přičemž doba efektivního využití kamer (tj. jejich pracovní cyklus) se bude blížit 100 %. Spektrometr tak umožní ultrarychlé a kontinuální získávání signálů (pro EELS, STEM-EELS mapování, TEM zobrazování a difrakci, 4D-STEM), což minimalizuje poškození citlivých vzorků vůči elektronovému svazku a zabrání dosažení limitů dávkového příkonu pro saturaci (tj. dosažení nelineárních intenzit elektronů zabraňujících kvantitativnímu čítání elektronů) nebo pro poškození senzorů kamer.
Systém spektrometru umožní multimodální akvizice, včetně korelovaného mapování STEM-EELS a 4D-STEM a simultánního multisnímkového mapování oblastí zájmu pomocí STEM-EDS a STEM-EELS. Skenovací řídicí jednotka spektrometru zajistí ultrarychlé polohování (skenování) paprsku s časy na pixel v řádu desítek ns, vysokou rychlost přenosu dat prostřednictvím optických kabelů a kontinuální multisnímkové spektrální zobrazování s kontrolou driftu po jednotlivých snímcích s nulovou mrtvou dobou mezi snímky.
Systém spektrometru bude schopen časově rozlišeného rychlého a kontinuálního STEM-EELS mapování, TEM zobrazování a 4D-STEM akvizice během in-situ experimentů. Systém umožní okamžitý přístup k získaným datům a jejich vyhodnocení již během probíhajících in-situ měření.
Podrobně bude předmět veřejné zakázky vymezen technickými, obchodními a jinými smluvními podmínkami, které budou součástí zadávací dokumentace. Noví dodavatelé 🤏 Zadavatel má pouze 31 % nových dodavatelů
Toto info je pouze po
registrované
uživatele.
Systém spektrometru zajistí řádově rychlejší expoziční časy (tj. v řádu prvních stovek ns) než umožňuje systém mikroskopu. Získávání spekter pomocí kamer bude možné s minimalizovaným "mrtvým časem" (deadtime), přičemž doba efektivního využití kamer (tj. jejich pracovní cyklus) se bude blížit 100 %. Spektrometr tak umožní ultrarychlé a kontinuální získávání signálů (pro EELS, STEM-EELS mapování, TEM zobrazování a difrakci, 4D-STEM), což minimalizuje poškození citlivých vzorků vůči elektronovému svazku a zabrání dosažení limitů dávkového příkonu pro saturaci (tj. dosažení nelineárních intenzit elektronů zabraňujících kvantitativnímu čítání elektronů) nebo pro poškození senzorů kamer.
Systém spektrometru umožní multimodální akvizice, včetně korelovaného mapování STEM-EELS a 4D-STEM a simultánního multisnímkového mapování oblastí zájmu pomocí STEM-EDS a STEM-EELS. Skenovací řídicí jednotka spektrometru zajistí ultrarychlé polohování (skenování) paprsku s časy na pixel v řádu desítek ns, vysokou rychlost přenosu dat prostřednictvím optických kabelů a kontinuální multisnímkové spektrální zobrazování s kontrolou driftu po jednotlivých snímcích s nulovou mrtvou dobou mezi snímky.
Systém spektrometru bude schopen časově rozlišeného rychlého a kontinuálního STEM-EELS mapování, TEM zobrazování a 4D-STEM akvizice během in-situ experimentů. Systém umožní okamžitý přístup k získaným datům a jejich vyhodnocení již během probíhajících in-situ měření.
Podrobně bude předmět veřejné zakázky vymezen technickými, obchodními a jinými smluvními podmínkami, které budou součástí zadávací dokumentace. Noví dodavatelé 🤏 Zadavatel má pouze 31 % nových dodavatelů
Dřívější dodavatelé
Odkaz na zdroj
Toto info je pouze po
registrované
uživatele.
Dokumenty
Zadávací dokumentace a další dokumenty jsou přístupné pouze pro registrované uživatele.
Zaregistrujte se zdarma a využívejte Tendry naplno.